電感(gan)(gan)耦合等離(li)子(zi)(zi)體質譜儀(ICP-MS)及電感(gan)(gan)耦合等離(li)子(zi)(zi)體發射光譜儀(ICP-OES)在(zai)某(mou)(mou)些(xie)領(ling)域例如地質學(xue)，始終(zhong)扮演著獨(du)具魅力的(de)角(jiao)色。時(shi)至今日，ICP-MS仍(reng)然活躍在(zai)新進展的(de)前沿(yan)，在(zai)某(mou)(mou)些(xie)熱點領(ling)域如金屬組學(xue)和納(na)米(mi)顆粒分析(xi)方面(mian)繼續(xu)大放異彩(cai)。

　　為(wei)慶祝《Spectroscopy》創刊(kan)30周年，該刊(kan)特邀幾位(wei)ICP-MS專家就ICP-MS的近(jin)期技術進展、存在的挑戰和未來發展方向做(zuo)了一個綜述，以(yi)饗讀(du)者。

　　

　　

　　形態分析

　　形(xing)態分(fen)析是(shi)ICP-MS的(de)另一項(xiang)重要應(ying)用(yong)領域，而且(qie)它也獲得越來越多的(de)關(guan)注，特別是(shi)期望一些有毒有害元素(例(li)如(ru)(ru)食(shi)品中(zhong)的(de)砷和水(shui)中(zhong)的(de)鉻)受到(dao)管控的(de)領域。如(ru)(ru)欲對未知化合物進(jin)(jin)行完整的(de)形(xing)態分(fen)析，ICP-MS技術(shu)還需要和其(qi)他補充相關(guan)結構信息的(de)手段相結合，例(li)如(ru)(ru)ESI-MS。ESI-MS用(yong)于(yu)確(que)定(ding)有機分(fen)子的(de)化學式和結構已(yi)經有很長(chang)的(de)時間了。由于(yu)ESI是(shi)一種(zhong)軟電離(li)源，故可通過(guo)所產生的(de)分(fen)子離(li)子來確(que)定(ding)其(qi)結構信息。所以(yi)(yi)我們也詢問了專家們，ESI-MS是(shi)否可以(yi)(yi)取代ICP-MS的(de)聯用(yong)來進(jin)(jin)行定(ding)量的(de)形(xing)態分(fen)析?

　　達(da)成的(de)(de)共識是(shi)“不會(hui)”，因為對于(yu)定(ding)量形(xing)態分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)而言，相比ESI-MS，ICP-MS具(ju)有一些特殊的(de)(de)優勢。在ESI-MS中(zhong)，電離(li)效率和基體類型息息相關，故許多的(de)(de)定(ding)量分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)都必(bi)須使用內(nei)標法來校正(zheng)。與此相反的(de)(de)是(shi)如ICP等原子(zi)離(li)子(zi)源，幾(ji)乎以相同的(de)(de)效率產(chan)生離(li)子(zi)，并且(qie)與元素的(de)(de)化學結構很少或者幾(ji)乎無關。“當進行定(ding)量分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)的(de)(de)時候，這個特性是(shi)十分(fen)(fen)(fen)重(zhong)要的(de)(de)，特別是(shi)待分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)物是(shi)未(wei)知類型樣品的(de)(de)時候。”Ray如是(shi)說。

　　Westphal指出：在形態分(fen)析當中，ICP-MS的另一項優(you)勢是它(ta)很容(rong)易與(yu)其他的分(fen)離技術連接。他說：“最新改進(jin)的為LC、GC、IC連用(yong)ICP-MS的接口和軟(ruan)件，再加上ICP-MS容(rong)易定(ding)量(liang)和譜線比較(jiao)簡(jian)單。這些都導致ESI-MS完(wan)全無(wu)法取代ICP-MS和其他儀(yi)器的聯用(yong)，尤(you)其是進(jin)行痕(hen)量(liang)、超痕(hen)量(liang)分(fen)析的時(shi)候。”

　　Hanley闡述(shu)了這(zhe)(zhe)一因素的(de)(de)重要(yao)性。她指(zhi)出：金屬或(huo)者非(fei)金屬的(de)(de)形態分析(xi)通(tong)常需要(yao)連(lian)接IC或(huo)者反相IC。用(yong)IC法來(lai)進行形態分離時，通(tong)常會使用(yong)含鹽的(de)(de)流動(dong)相。她說：“當色譜(pu)和ICP-MS連(lian)用(yong)時，ICP-MS具(ju)有(you)(you)一定程度的(de)(de)耐(nai)鹽性。這(zhe)(zhe)使得LC-ICP-MS的(de)(de)分析(xi)方(fang)法具(ju)有(you)(you)穩健(jian)性、可重復以及低達亞ppb的(de)(de)檢出限(xian)。”而(er)對于ESI-MS而(er)言，鹽分是一種(zhong)不利(li)的(de)(de)因素，它的(de)(de)存(cun)在既(ji)影響檢出限(xian)也使得分析(xi)方(fang)法的(de)(de)穩健(jian)性下(xia)降。

　　Hanley指出(chu)：此(ci)外(wai)，在形態(tai)(tai)分(fen)(fen)析上ICP-MS具(ju)有(you)其他一(yi)些(xie)(xie)優點。當使用(yong)LC-ICP-MS來(lai)做形態(tai)(tai)分(fen)(fen)析時，檢(jian)測器(qi)僅對(dui)金屬(shu)/非(fei)金屬(shu)元(yuan)素有(you)信(xin)號的(de)(de)相(xiang)(xiang)應(ying)，對(dui)于那些(xie)(xie)經(jing)過消解的(de)(de)有(you)機(ji)成分(fen)(fen)則(ze)不會有(you)相(xiang)(xiang)應(ying)的(de)(de)信(xin)號干擾。她說：“這使得一(yi)些(xie)(xie)復(fu)(fu)(fu)雜樣品(pin)——從(cong)生物類樣品(pin)如尿液血液到食品(pin)如大(da)米和海鮮——的(de)(de)分(fen)(fen)析變得簡單(dan)。”與此(ci)相(xiang)(xiang)反，當使用(yong)LC-ESI-MS時，有(you)機(ji)組分(fen)(fen)和無(wu)機(ji)組分(fen)(fen)一(yi)起被洗脫(tuo)下來(lai)進樣，此(ci)時無(wu)機(ji)組分(fen)(fen)離子的(de)(de)含(han)量(liang)過低導致ESI-MS不容(rong)易檢(jian)測。她說：“上述(shu)提到的(de)(de)那些(xie)(xie)復(fu)(fu)(fu)雜樣品(pin)，如果使用(yong)同樣的(de)(de)前處理方法，然(ran)后采用(yong)LC-ESI-MS來(lai)檢(jian)測的(de)(de)話，得到的(de)(de)LC-ESI-MS譜圖將會過于復(fu)(fu)(fu)雜從(cong)而(er)使得無(wu)法獲得有(you)意義的(de)(de)數據——因(yin)為檢(jian)測器(qi)會對(dui)任何(he)能電離的(de)(de)東西有(you)響應(ying)。”

　　雖然考慮到這些因素，一些專家仍然認為技術是互補的。Vanhaecke說：“我(wo)希望色(se)譜柱分(fen)離產(chan)物(wu)可以分(fen)別被分(fen)流進ICP-MS和(he)ESI-MS，這樣可以更加有通用性。”

　　Koppenaal同意(yi)這點，他說：“將(jiang)ESI-MS和ICP-MS結合(he)起來將(jiang)被繼續使(shi)用(yong)，以實(shi)現更好的形態分析。這種方法既對元(yuan)素分析有好處同時也有利于明確(que)(que)分子結構的確(que)(que)定。”

　　解決(jue)尚存問題

　　我(wo)們也(ye)請(qing)專家們討論目前有(you)哪些尚未解決的問(wen)題，特(te)別是(shi)復雜(za)基(ji)體(ti)樣品的測(ce)試，以及如何開發(fa)ICP-MS方法、技(ji)術來攻克這些問(wen)題。

　　Ray明智地回答到：“沒有一種方法能一勞永逸地解決(jue)復(fu)雜基體的(de)(de)分(fen)析問(wen)題。”他說道：“碰撞反(fan)應池解決(jue)了(le)很多的(de)(de)問(wen)題，但(dan)隨著這些(xie)問(wen)題的(de)(de)解決(jue)，剩(sheng)下的(de)(de)麻(ma)煩則越(yue)來越(yue)困(kun)難。奇怪的(de)(de)是(shi)(shi)，造成(cheng)這些(xie)困(kun)擾的(de)(de)原因并不是(shi)(shi)ICP-MS的(de)(de)質譜部分(fen)，而是(shi)(shi)來自(zi)于離(li)子源。對ICP-MS的(de)(de)離(li)子源開展更多的(de)(de)研究是(shi)(shi)十分(fen)必要的(de)(de)，特別是(shi)(shi)對應于激光(guang)燒(shao)蝕聯(lian)用和納米顆粒分(fen)析應用。”

　　Westphal將話題轉回樣(yang)品的處理上：“現(xian)在(zai)(zai)的ICP-MS已經可(ke)以(yi)直(zhi)接分析高總(zong)固體溶解度樣(yang)品，這堪(kan)比ICP-OES。然而交叉污(wu)染以(yi)及儀器(qi)背景值，使得我們即便使用(yong)(yong)專用(yong)(yong)的樣(yang)品導入系統，也無法(fa)輕易地(di)在(zai)(zai)同一臺(tai)儀器(qi)上進行百分含量和低達ppt級別(bie)的分析。”不過他認(ren)為在(zai)(zai)他所從事的工業環(huan)境(jing)研究應用(yong)(yong)當(dang)中，現(xian)有的儀器(qi)已可(ke)提供足夠的檢出限。“雖然我們總(zong)是希(xi)望儀器(qi)可(ke)以(yi)更(geng)快、更(geng)佳同時(shi)又更(geng)便宜。”他補(bu)充說道。

　　Hanley說：大部分尚未解決的(de)(de)問題(ti)都涉及到(dao)干(gan)擾(rao)(rao)(rao)(rao)的(de)(de)消(xiao)除(chu)問題(ti)，多電荷離子的(de)(de)干(gan)擾(rao)(rao)(rao)(rao)依然(ran)是(shi)ICP的(de)(de)痼疾(ji)。雖然(ran)碰(peng)撞反(fan)應池(chi)(chi)的(de)(de)使用大大增(zeng)強了(le)去除(chu)同量異(yi)位素的(de)(de)干(gan)擾(rao)(rao)(rao)(rao)能力(li)(li)，但是(shi)在單(dan)四(si)極桿系(xi)統中(zhong)，碰(peng)撞反(fan)應池(chi)(chi)的(de)(de)消(xiao)干(gan)擾(rao)(rao)(rao)(rao)能力(li)(li)是(shi)和(he)基體息息相關的(de)(de)——任何(he)進入碰(peng)撞反(fan)應池(chi)(chi)中(zhong)的(de)(de)離子都將影(ying)響著池(chi)(chi)系(xi)統的(de)(de)再(zai)現(xian)性和(he)穩健(jian)性。

　　她說：“三重四(si)極(ji)(ji)桿(gan)型ICP-MS系(xi)統的(de)出現(xian)，在不損失靈敏度的(de)前提下，革命性(xing)地取得了消除雙(shuang)電(dian)荷離(li)子(zi)干(gan)擾(rao)(rao)、同(tong)量(liang)異位(wei)干(gan)擾(rao)(rao)離(li)子(zi)和儀(yi)器背景干(gan)擾(rao)(rao)的(de)效(xiao)果。”她解釋道：在三重四(si)極(ji)(ji)桿(gan)儀(yi)器中，第一(yi)個(ge)四(si)極(ji)(ji)桿(gan)用于消除基體(ti)離(li)子(zi)，同(tong)量(liang)異位(wei)干(gan)擾(rao)(rao)離(li)子(zi)和多電(dian)荷干(gan)擾(rao)(rao)離(li)子(zi)在碰撞反(fan)應池(chi)系(xi)統中被加以消除/降(jiang)低，然后第二個(ge)四(si)極(ji)(ji)桿(gan)作為濾質器。

　　Koppenaal說：“三重(zhong)四極桿型(xing)(xing)ICP-MS有(you)其(qi)(qi)獨(du)(du)特的優勢，但并(bing)非最(zui)終的‘靈(ling)丹妙藥’。新型(xing)(xing)的、綜合(he)的樣品(pin)前(qian)處理(li)方(fang)法(fa)和(he)儀器分(fen)析方(fang)法(fa)仍然必須繼續加以發(fa)展。長(chang)久以來，儀器制造(zao)商們都(dou)將這兩個視為獨(du)(du)立開發(fa)的問(wen)題(ti)，并(bing)以這樣的方(fang)式處理(li)——樣品(pin)的前(qian)處理(li)問(wen)題(ti)給予其(qi)(qi)他獨(du)(du)立的小公司加以解決，而(er)他們則專注(zhu)于儀器本身。”

　　未來的展望

　　最后，我們請專家們談論這項技(ji)術在近期內有沒有可(ke)能就儀器(qi)本身或者應用領域出現突(tu)破?

　　Ray指出：“一些不利因素正在持續(xu)改進當中(zhong)：儀器朝(chao)著(zhu)高速分析、低(di)價(jia)方向發(fa)展;低(di)樣品(pin)量的分析結果更(geng)加(jia)精準(zhun);其他的能(neng)力也將不斷地提高。”

　　不過，他(ta)和Denton、Vanhaecke一(yi)致認(ren)為需要(yao)有(you)一(yi)個(ge)重(zhong)點的發展(zhan)方向——同(tong)時型多(duo)(duo)接(jie)收ICP-MS。他(ta)說：“這就像(xiang)多(duo)(duo)色器在ICP-OES領(ling)域里面(mian)占據了主(zhu)流一(yi)樣。在未(wei)來(lai)，一(yi)個(ge)真正的多(duo)(duo)元素、多(duo)(duo)同(tong)位素同(tong)時型質(zhi)譜平(ping)臺(tai)將超越現(xian)有(you)產品，并取代(dai)之。”

　　Vanhaecke同(tong)(tong)意(yi)上(shang)述觀點，他提到：在(zai)生(sheng)物(wu)成(cheng)像方(fang)面，由于激光(guang)燒蝕細(xi)胞術的發(fa)展，組織(zhi)的二維掃描獲得了(le)提高，樣品的分(fen)(fen)析通量(liang)得到了(le)增加并且空間(jian)分(fen)(fen)辨率也提高了(le)。他說：“這意(yi)味著掃描型ICP-MS成(cheng)為了(le)阻礙該領域(yu)進一步(bu)發(fa)展的瓶頸(jing)。生(sheng)物(wu)成(cheng)像和納(na)米(mi)顆粒分(fen)(fen)析這兩方(fang)面的需求，將有(you)力(li)地推動著儀器制(zhi)造商向著同(tong)(tong)時(shi)型或同(tong)(tong)步(bu)型ICP-MS方(fang)面的投(tou)資。”

　　Westphal也呼吁(yu)同(tong)時型檢(jian)測(ce)器的研究(jiu)開(kai)發工作。他(ta)說：“當前(qian)掃描型質譜系統一般強(qiang)制要求用戶(hu)在進行樣品分(fen)析之前(qian)預先選擇好相應(ying)的同(tong)位素(su)。這意味著假如在分(fen)析過程當中(zhong)出現了(le)不可預知的干擾，那(nei)么用戶(hu)就(jiu)不得不重復整個樣品的分(fen)析過程。”

　　他(ta)說：“在(zai)(zai)高速質譜系(xi)統的幫(bang)助下，常(chang)規樣(yang)品的定量(而非定性(xing))分析過程(cheng)完(wan)全可(ke)以(yi)(yi)(yi)被扭轉——分析者可(ke)以(yi)(yi)(yi)先行收集數據，然后再決定選擇哪(na)個元素和同位素。最(zui)起碼，這將是(shi)一個不錯(cuo)的‘智能軟件’——當分析過程(cheng)中(zhong)發(fa)現有干擾(rao)存在(zai)(zai)時，它可(ke)以(yi)(yi)(yi)根據現有已(yi)知干擾(rao)信息(xi)來進行校正。”

　　Koppenaal同意“同時型(xing)多(duo)元素檢測器”的(de)必要(yao)性。他(ta)(ta)覺得(de)(de)利用CMOS陣列檢測器仍然需要(yao)時日方可(ke)(ke)成功，但當分(fen)析人(ren)員意識(shi)到它(ta)的(de)優勢(shi)(shi)后，將(jiang)會獲(huo)得(de)(de)發(fa)展(zhan)。他(ta)(ta)指出：其他(ta)(ta)的(de)進(jin)(jin)展(zhan)例如飛行(xing)距(ju)離質譜儀(DOF-MS)也可(ke)(ke)以在一(yi)個(ge)小的(de)質量段內提供近似“同時”的(de)檢測，并提供人(ren)們所熟悉的(de)TOF-MS所不(bu)具有的(de)優勢(shi)(shi)。他(ta)(ta)說：“我(wo)想這也是一(yi)種值(zhi)得(de)(de)進(jin)(jin)一(yi)步(bu)開(kai)發(fa)和加(jia)以應用的(de)、激動人(ren)心的(de)技(ji)術。它(ta)還提供了制(zhi)備(毫克)水平上的(de)收(shou)集、分(fen)離分(fen)析物能力。”

　　Hanley重申她(ta)(ta)期望能見(jian)到一款同時具有元素(su)和分子檢測(ce)能力的質譜儀。她(ta)(ta)說：“這種(zhong)原型機已經出(chu)現了，它將會(hui)是商業市場上的競爭者(zhe)。”

　　她(ta)(ta)還認(ren)為(wei)，采用聯用技術，ICP-MS對金屬納米顆粒進行表(biao)征將會(hui)從一種研究(jiu)工具逐漸變(bian)成(cheng)日常(chang)的應(ying)用。她(ta)(ta)說：“各種同(tong)行評審刊(kan)物(wu)顯示，光(guang)譜(pu)分析法(fa)如UV-Vis或(huo)者動(dong)態光(guang)散射法(fa)對于納米顆粒表(biao)征達(da)檢(jian)出限不夠(gou)時，ICP-MS聯用如場流(liu)分離效應(ying)、高效液相色譜(pu)和毛細管電(dian)泳色譜(pu)技術卻能達(da)到。而(er)用于單(dan)顆粒檢(jian)測的進樣系統已(yi)經在研究(jiu)工作中(zhong)獲(huo)得了進展。”

　　Vanhaecke預見了另一(yi)個(ge)領(ling)域——生物(wu)醫學領(ling)域的(de)進(jin)步(bu)。他說：“幾個(ge)實驗室(包括(kuo)我這(zhe)(zhe)里)正在探(tan)索用(yong)于(yu)醫療方(fang)面的(de)高精度(du)礦質元素(su)同位素(su)分析。目前所知(zhi)道(dao)的(de)是，一(yi)些(xie)疾病(bing)會明(ming)顯(xian)地(di)影響人(ren)體體液當中某些(xie)元素(su)同位素(su)的(de)組(zu)成。這(zhe)(zhe)方(fang)面的(de)研究可用(yong)于(yu)疾病(bing)的(de)早期診(zhen)斷(duan)，否則只能在后期或者通過一(yi)些(xie)創傷性方(fang)法了。當然，我是有偏心的(de)，但確實應該看(kan)到這(zhe)(zhe)個(ge)領(ling)域的(de)創新(xin)性應用(yong)。”

　　Westphal希(xi)望我們能(neng)把(ba)目光注意到(dao)軟件和(he)(he)數(shu)據處理工具上(shang)的(de)(de)(de)進(jin)步。令人欣慰的(de)(de)(de)是，關于軟件和(he)(he)聯(lian)用技(ji)術的(de)(de)(de)接口方(fang)面已經有了(le)(le)長足(zu)的(de)(de)(de)進(jin)展(zhan)，這點包(bao)括用于納米顆粒分析的(de)(de)(de)軟件模(mo)塊。他希(xi)望激光燒蝕方(fang)面也能(neng)有如(ru)此的(de)(de)(de)進(jin)步：“激光燒蝕領域如(ru)果能(neng)有類似(si)的(de)(de)(de)改進(jin)那將會很受歡迎(ying)，因(yin)為目前數(shu)據的(de)(de)(de)處理和(he)(he)分析已經成(cheng)了(le)(le)瓶頸。通過LA-ICP-MS得到(dao)二維和(he)(he)三維化(hua)學成(cheng)像的(de)(de)(de)定量分析數(shu)據，是一個具有廣泛應用并(bing)且(qie)激動人心的(de)(de)(de)領域，并(bing)且(qie)與(yu)LA-ESI-MS和(he)(he)TOF-SIMS技(ji)術相互補充。”

　　Hanley預見(jian)激光燒蝕的(de)另一項(xiang)新進展(zhan)：LA-ICP-MS的(de)內標和定(ding)量分(fen)析方(fang)法。她說：“新的(de)LA-ICP-MS標準(zhun)已經在進行(xing)內部測試，以驗證內標和定(ding)量標準(zhun)的(de)有效性。”

　　總結

　　近年ICP-MS儀器(qi)取(qu)得了一些重大的(de)(de)(de)突破。由(you)于碰撞(zhuang)/反應池系統(tong)和三重四極桿的(de)(de)(de)出現，光譜干擾(rao)被有效地降低;基(ji)于CMOS技術的(de)(de)(de)檢測(ce)器(qi)取(qu)得了長足的(de)(de)(de)進步(bu);微流技術的(de)(de)(de)發展促使了等離子源的(de)(de)(de)改善，使得樣品的(de)(de)(de)需求量更低、進入質(zhi)譜系統(tong)的(de)(de)(de)樣品基(ji)體量更少，并且在單細(xi)胞(bao)分(fen)析(xi)領域表現突出;微電子學的(de)(de)(de)進展使儀器(qi)具有更快的(de)(de)(de)數據(ju)采(cai)集速(su)度并改善了數據(ju)的(de)(de)(de)存儲，從而使得痕量級別的(de)(de)(de)分(fen)析(xi)成為(wei)可能，并且還促進了高性能的(de)(de)(de)CMOS檢測(ce)器(qi)的(de)(de)(de)發展。

　　時至今日，儀器本身已經足以應(ying)對超痕量級(ji)別的(de)(de)分析，制約許(xu)多分析的(de)(de)瓶頸反而是來(lai)自(zi)于(yu)樣(yang)品的(de)(de)前處理步驟，這(zhe)催(cui)生(sheng)了試劑和(he)器皿的(de)(de)發展，同時也(ye)促進了潔凈室、密(mi)閉(bi)樣(yang)品處理系統和(he)自(zi)動(dong)化操作(zuo)的(de)(de)廣泛應(ying)用。

　　ICP-MS技術(shu)(shu)的(de)(de)(de)(de)發展(zhan)也推動(dong)(dong)著應用領域拓(tuo)展(zhan)。ICP-MS強(qiang)有力的(de)(de)(de)(de)技術(shu)(shu)能力使之可(ke)對(dui)應ppb級別的(de)(de)(de)(de)納米粒(li)(li)子濃度、粒(li)(li)徑(jing)(jing)大小和粒(li)(li)徑(jing)(jing)分布的(de)(de)(de)(de)測試(shi)，這些信息(xi)可(ke)使研究(jiu)人員、監管(guan)機(ji)構和消(xiao)費者了解(jie)納米顆(ke)粒(li)(li)在環境和食(shi)品當中的(de)(de)(de)(de)影(ying)響，也可(ke)以了解(jie)其對(dui)生物的(de)(de)(de)(de)潛在影(ying)響;ICP-MS既是(shi)金屬組學研究(jiu)的(de)(de)(de)(de)關鍵設備，也是(shi)推動(dong)(dong)單細胞研究(jiu)向前發展(zhan)的(de)(de)(de)(de)利器(qi)，質譜流式術(shu)(shu)和地(di)(di)質年代學的(de)(de)(de)(de)發展(zhan)也和ICP-MS系統的(de)(de)(de)(de)進展(zhan)息(xi)息(xi)相關;多接收扇形磁質譜儀(yi)保證(zheng)了同位素比例測試(shi)結(jie)果的(de)(de)(de)(de)準確度和精(jing)確度;利用ESI-MS和ICP-MS所獲得數據的(de)(de)(de)(de)相互補充，形態(tai)分析也在不斷地(di)(di)發展(zhan)著。

　　未來理想(xiang)中的(de)(de)質譜儀是那種具有(you)同時檢測能力和超(chao)大線(xian)性范圍的(de)(de)設備。使用CMOS作為檢測器(qi)(qi)可使得這(zhe)樣(yang)的(de)(de)儀器(qi)(qi)成為現(xian)實，但飛行時間或者飛行距離質譜儀則可能更早(zao)地實現(xian)這(zhe)個目標。最后(hou)也期盼能夠(gou)出現(xian)這(zhe)樣(yang)的(de)(de)儀器(qi)(qi)——同時帶有(you)元素檢測和分子檢測的(de)(de)質譜檢測器(qi)(qi)。

　　譯者：許少輝